Знайдено спосіб визначити небезпечний розлад на ранньому етапі

Вчені з Цюріхського університету та Університетської психіатричної клініки зробили крок до нової діагностики шизофренії - одного з найскладніших психічних розладів. Їхнє дослідження виявило можливий зв'язок між генетичною схильністю до захворювання і витонченням сітківки ока.

Оскільки сітківка є частиною центральної нервової системи і безпосередньо пов'язана з мозком, зміни в її структурі можуть відображати невидимі нейронні процеси. Дослідники використовували дані з британського біобанку, вивчивши десятки тисяч здорових людей. Вони розраховували полігенні ризики розвитку шизофренії та зіставляли їх із результатами оптичної когерентної томографії, оцінюючи вплив генетики на стан очної тканини.

Хоча ефект був помітний лише при аналізі великих вибірок, результати виявилися значущими: підвищений генетичний ризик шизофренії супроводжувався більш тонкою сітківкою. Це може стати основою для ранньої, неінвазивної та доступної діагностики захворювання.

Крім того, дослідження торкнулося ролі запалень у мозку. Зв'язок між запальними процесами і змінами сітківки відкриває перспективи для розробки нових методів лікування, спрямованих на запобігання розвитку шизофренії.

Нагадаємо, раніше ми писали про те, що вчені тестують вакцину від прищів.

Підпишись на наш Telegram-канал, якщо хочеш першим дізнаватися головні новини.

• Теги:
• шизофренія